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| 你的借口：如何改变影响终身的自我挫败性思维习惯/[美国]韦恩·W. 戴尔(Wayne W. Dyer)著/[中国]崔京瑞译.-1.-天津：天津社会科学院出版社，2010.12 |
| 198页；23cm |
| ←并列题名： |
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| ISBN 978-7-80688-615-1(平装)：CNY29.80 |
| 本书阐释了如何改变潜藏于内的自我挫败性思维模式，指出每个人都会有的意识，分析了各种借口的形成原因与转换办法。 |
| ● |
正题名：你的借口
索取号：B848/160
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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十楼书库/10W05B0202/
[索取号:B848/160]
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十楼书库/10W05B0202/
[索取号:B848/160]
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