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@a嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析@Aqian ru shi xi tong ke kao xing she ji ji shu ji an li jie xi@f武晔卿编著@Fwu ye qing bian zhu
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@a第1版
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@a北京@c北京航空航天大学出版社@d2012.07
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@a247页@c图@d24cm
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@a博客藏经阁丛书@Abo ke zang jing ge cong shu
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@a有书目
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@a本书介绍了嵌入式系统设计中, 哪些地方最可能带来可靠性隐患, 以及从设计上如何进行预防。内容包括: 启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法 ; 降额参数和降额因子的选择方法等。
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@aCN@b郑州旅游职业学院@c20131221
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| 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析/武晔卿编著.-第1版.-北京：北京航空航天大学出版社，2012.07 |
| 247页：图；24cm.-(博客藏经阁丛书) |
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| ISBN 978-7-5124-0822-7(简装)：CNY36.00 |
| 本书介绍了嵌入式系统设计中, 哪些地方最可能带来可靠性隐患, 以及从设计上如何进行预防。内容包括: 启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法 ; 降额参数和降额因子的选择方法等。 |
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正题名：嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析
索取号：TP360.2/1
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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0450030
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204500307
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十四楼书库/14E19A0101/
[索取号:TP360.2/1]
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在馆
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架位导航
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