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000
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01176nam0 22002651 450
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0100008424
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20180622132407.13
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@a978-7-5605-9902-1@dCNY42.00
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@a20171023d2017 em y0chiy50 ea
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@achi@eeng
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@a基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究@Aji yu fen zi mo ni de dian xing jue yuan cai liao jie dian te xing yan jiu@f谢小军著
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@a西安@c西安交通大学出版社@d2017.07
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@a123页@c图@d24cm
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@a“十三五”学术文库系列@A“ shi san wu ” xue shu wen ku xi lie
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@a有书目 (第115-123页)
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@a本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。
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@12001 @a“十三五”学术文库系列
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@a电工材料@Ajue yuan cai liao@x介电性质@x研究
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@aTM21@v5
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690
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@aTM2@v4
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701
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0
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@a谢小军@Axie xiao jun@4著
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801
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@aCN@bMG@c20180620
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@aLYXY@dTM2@e1
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| 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著.-西安：西安交通大学出版社，2017.07 |
| 123页：图；24cm.-(“十三五”学术文库系列) |
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| ISBN 978-7-5605-9902-1：CNY42.00 |
| 本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。 |
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正题名：基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
索取号：TM2/1
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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954851
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209548514
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十四楼书库/14E07A0204/
[索取号:TM2/1]
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在馆
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架位导航
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2
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954852
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209548523
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十四楼书库/14E07A0204/
[索取号:TM2/1]
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209548532
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十四楼书库/14E07A0204/
[索取号:TM2/1]
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