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书名：
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半导体器件参数快速综合测试仪
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作者：
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罗静成
著
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出版信息：
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北京
人民邮电出版社
1980.04
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开本页数：
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20cm
369页
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丛书名：
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单 册：
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中图分类：
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TN303
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科图分类：
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主题词：
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半导体技术
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电子资源：
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ISBN：
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000
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| 半导体器件参数快速综合测试仪/罗静成著.-第1版.-北京：人民邮电出版社，1980.04 |
| 369页；20cm |
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| ISBN (简)：CNY1.05 |
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正题名：半导体器件参数快速综合测试仪
索取号：TN303/1
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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60275
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200602758
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十四楼书库/14E08A0504/
[索取号:TN303/1]
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在馆
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架位导航
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