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@ a现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应@ Axian dai ji cheng dian lu he dian zi xi tong de di qiu huan jing fu she xiao ying@ d= Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems@ f(日) Eishi H. Ibe著@ g毕津顺, 马瑶, 王天琦译@ zeng
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@ a本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应= Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems/(日) Eishi H. Ibe著/毕津顺, 马瑶, 王天琦译.-北京：电子工业出版社，2019.01 14, 210页：图；26cm.-(国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术) ISBN 978-7-121-35115-0：CNY79.00 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。 ●
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1
0984011
209840118
十四楼书库/14E08A0604/
[索取号:TN4/44]
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十四楼书库/14E08A0604/
[索取号:TN4/44]
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